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摘要:
铂金丝作为低温器件封装中理想的键合丝,其键合质量的优劣决定着整个器件的性能和可靠性.通过25 μm的铂金丝球形键合试验,并使用OLYMPUS SMT-6三轴测量显微镜观察键合点形貌并测量第一键合点根部直径.结果 表明,当超声功率介于0.96~1.2 W时,增加超声功率有助于提高键合强度,增加工艺稳定性.在文中所设实验条件下,为保证键合强度和工艺稳定性,超声功率设置为1.2~1.28 W时最佳.第一焊点键合球平均直径为2.8WD(WD表示键合线直径)时,键合强度最大,工艺稳定性最好.总结出了键合点直径与拉力值关系图,从而通过键合点直径来评价键合质量.
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文献信息
篇名 超声功率对25μm铂金丝球形键合强度的影响及键合点质量评价
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 超声功率 铂金丝 球形键合 质量评价
年,卷(期) 2019,(11) 所属期刊栏目 封装、组装与测试
研究方向 页码范围 4-8
页数 5页 分类号 TN305.94|TG146.3+3
字数 2803字 语种 中文
DOI 10.16257/j.cnki.1681-1070.2019.1102
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 孙闻 中国科学院上海技术物理研究所传感技术国家重点实验室 9 22 3.0 4.0
5 赵振力 中国科学院上海技术物理研究所传感技术国家重点实验室 1 0 0.0 0.0
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超声功率
铂金丝
球形键合
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电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
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