倒充填材料iRoot BP Plus的根尖封闭性研究

• 作者: 王霄 谢克贤 黎远皋
• 来源期刊: 中华老年口腔医学杂志
• 学科: 医学
• 关键词: iRoot BP Plus MTA 线性渗漏 根尖倒充填材料 根尖手术
• 年，卷（期）: 2019,（3）
• 所属期刊栏目: 牙体牙髓病治疗
• 页码范围: 142-144,186
• 页数: 4页
• 分类号: R781
• 字数: 2519字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19749/j.cn.cjgd.1672-2973.2019.03.003

摘要

目的:评价根尖倒充填材料iRoot BP Plus的根尖封闭性.方法:选取新鲜拔除未行牙髓治疗的30颗下颌磨牙,截取远中根,机用镍钛锉根备,牙胶加氧化锌丁香油糊剂冷侧压法根充.根管口使用玻璃离子覆盖,蒸馏水中保存一周后取出牙根,随机分成银汞、iRoot BP Plus和MTA三组,分别行截根,倒预备,倒充填.截根长度和倒预备洞型深度均为3mm,倒预备洞型宽度略宽于超声工作尖尖端直径.根尖使用PBS溶液调伴的藻酸盐包裹,在PBS溶液中浸泡一周后取出,干燥,除根尖截面外牙根表面涂2层指甲油,2％亚甲基蓝溶液染色一周,牙根纵行剖开后在16倍手术显微镜下测量线性渗漏值.统计数据用SPSS22分析,采用单因素方差分析,组间差异用Tamhane's T2法分析.结果:各组渗漏值(均值±标准差)为:银汞(2.07±0.86mm),iRoot BP Plus(0.11±0.08mm),MTA(0.17±0.14mm),单因素方差分析显示不同组渗漏存在显著差异,组间比较显示iRoot BP Plus组和MTA组渗漏无显著差异,显著小于银汞组.结论:iRoot BP Plus根尖封闭性与MTA无显著差异,显著优于银汞合金.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黎远皋	北京大学第三医院口腔科	26	190	8.0	13.0
2	王霄	北京大学第三医院口腔科	39	249	9.0	14.0
3	谢克贤	北京大学第三医院口腔科	14	82	4.0	9.0