ICP-AES测定废电路板剥离料中铅、锌、锡和镍量

• 作者: 郭萌
• 来源期刊: 有色冶金设计与研究
• 关键词: ICP-AES 废电路板剥离料粗杂铜 铅、锌、锡和镍测定
• 年，卷（期）: 2019,（6）
• 所属期刊栏目: 冶金与材料
• 页码范围: 40-43
• 页数: 4页
• 分类号: O657.31
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-4345.2019.06.012

摘要

介绍一种将废电路板剥离料粗杂铜样品用盐酸、酒石酸和过氧化氢溶解,在稀盐酸、酒石酸介质中用电感耦合等离子体原子发射光谱法连续测定其中的铅、锌、锡和镍的方法.该方法解决了溶样过程中锡生成偏锡酸沉淀而使结果偏低的问题.通过实验,确定了合适的分析线和仪器各项参数,4个被测元素的检出限为0.021～0.189μg/mL,相对标准偏差(RSD)(n=7)为1.06％～4.94％,加标回收率在95.00％～101.32％之间,能有效地满足废电路板剥离料粗杂铜样品中铅、锌、锡和镍的日常分析测定.