集成电路延迟时间测量结果的不确定度评定?

• 作者: 张丽巍 李晓红 李真 邓永芳 陈敏
• 来源期刊: 计算机与数字工程
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 延迟时间 不确定度
• 年，卷（期）: 2019,（1）
• 所属期刊栏目: 专栏·微电子计量测试
• 页码范围: 19-23
• 页数: 5页
• 分类号: TB973
• 字数: 2303字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-9722.2019.01.006

摘要

采用GB/T17574-1998《半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路》[1]第Ⅳ篇测试方法第3节动态测试的测试方法分别对某运算放大器、开关驱动器和标准模块的延迟时间进行测试,并按JJF1059.1-2012《测量不确定度评定与表示》[2]、CNAS-CL07:2011《测量不确定度的要求》[3]、CNAS-GL08:2006《电器领域不确定度的评估指南》[4]的要求,对测量结果进行不确定度评定[5].

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张丽巍	中国电子科技集团公司第二十四研究所	8	18	2.0	4.0
2	李晓红	中国电子科技集团公司第二十四研究所	20	87	6.0	9.0
3	邓永芳	中国电子科技集团公司第二十四研究所	13	48	3.0	6.0
4	陈敏	中国电子科技集团公司第二十四研究所	4	2	1.0	1.0
5	李真	中国电子科技集团公司第二十四研究所	7	5	2.0	2.0