荧光薄膜材料荧光特性对荧光显微镜分析测量效果的影响

• 作者: 叶子弘 张玲 王菲 许培培 黄菲
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 薄膜材料 荧光测量 荧光特性 荧光显微镜 校准
• 年，卷（期）: 2019,（4）
• 页码范围: 742-748
• 页数: 7页
• 分类号: TB99
• 字数: 4108字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2019.04.32

摘要

荧光显微镜测量结果的准确性,受仪器的线性动态范围、光场均匀性及光源稳定性等因素影响.运用荧光薄膜材料对荧光显微镜进行实验验证,发现荧光线性、均匀性及稳定性等荧光特性对于荧光显微镜分析测量效果十分重要.对荧光薄膜材料的光谱特性、线性、均匀性及光稳定性等方面进行研究,建立了荧光薄膜材料荧光特性的测量方法,对荧光显微镜校准方法进行了初步探索,为荧光显微镜的校准奠定了基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	叶子弘	中国计量大学生命科学学院	59	329	10.0	15.0
2	张玲		23	80	5.0	8.0
3	王菲	中国计量大学生命科学学院	3	0	0.0	0.0
4	许培培	中国计量大学生命科学学院	1	0	0.0	0.0
5	黄菲	北京信息科技大学光电学院	1	0	0.0	0.0