磁暴事件对高精度TEC二维分布的影响

• 作者: 余侯芳 冯健 张玉强 甄卫民 郭文兴
• 来源期刊: 全球定位系统
• 学科: 地球科学
• 关键词: 全球卫星导航系统 电离层总电子含量 Kriging方法 亚大地区 磁暴
• 年，卷（期）: 2019,（3）
• 所属期刊栏目: 理论与探讨
• 页码范围: 23-31
• 页数: 9页
• 分类号: P352
• 字数: 4412字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13442/j.gnss.1008-9268.2019.03.004

摘要

电离层总电子含量(TEC)是电离层探测与研究工作的重要特征参量之一.利用地基GPS接收站台网,可以获得大量的垂直TEC数据.本文提出一种高精度TEC地图重构方法,基于Kriging法对垂直TEC进行插值处理,实现了亚大区域高分辨率TEC二维分布的重构,并与实测数据对比验证了本方法的精度和有效性.基于此二维分布,分析了区域TEC值随时间、纬度的变化情况;重点分析了磁静日与磁暴期间南北半球不同纬度TEC值的不同表现特征,并给出了磁暴期间不同纬度TEC的变化趋势所存在的差异及其解释,相关研究成果可为区域高分辨率电离层监测系统的建立提供方法支撑.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	甄卫民		53	299	11.0	15.0
2	冯健		26	215	8.0	14.0
3	张玉强	西安电子科技大学物理与光电工程学院	7	37	4.0	6.0
4	余侯芳		4	2	1.0	1.0
5	郭文兴		1	0	0.0	0.0