基于曲晶片相控阵超声的细长轴类锻件检测仿真与试验

• 作者: 凌张伟 汤杰 王敏 缪存坚 蒋政培 郭伟灿
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: 曲率 轴类锻件 相控阵超声 曲晶片
• 年，卷（期）: 2019,（6）
• 所属期刊栏目: 相控阵超声检测技术应用专题
• 页码范围: 32-37
• 页数: 6页
• 分类号: TG115.28
• 字数: 3477字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11973/wsjc201906008

摘要

细长轴类锻件的缺陷方向通常与轴线平行,因此一般超声检测采用纵波直探头在锻件圆周面上进行扫查.由于细长轴类锻件的直径较小,其圆柱曲界面与探头很难实现完全接触而使得耦合层厚度不均,进而导致超声波透射系数减小以及检测灵敏度下降.为实现对细长轴类锻件缺陷的有效检测,从理论上分析了圆柱曲晶片及曲晶片相控阵的检测原理,提出了曲晶片超声相控阵聚焦技术.通过仿真软件CIVA对常规探头、曲晶片探头以及曲晶片相控阵探头形成的声场聚焦分布规律进行研究,设计加工了曲面对比试块和带人工缺陷的细长轴类小型锻件,开展了平面晶片和曲面晶片的相控阵探头超声检测试验,验证了提出的曲晶片超声相控阵聚焦方法的可行性与合理性,结果表明该方法的检测灵敏度和定位定量精度均优于常规直探头和平晶片相控阵探头的.