大功率三电平变频器损耗及IGBT结温分析

• 作者: 云献睿 何凤有 何文云 周肖飞
• 来源期刊: 电力电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 绝缘栅双极型晶体管 结温 电-热耦合模型
• 年，卷（期）: 2019,（2）
• 所属期刊栏目: 装置与应用
• 页码范围: 62-65
• 页数: 4页
• 分类号: TN32
• 语种: 中文

摘要

提出一种大功率三电平变频器损耗及器件结温计算的简便方法,通过实验数据建立绝缘栅双极型晶体管(IGBT)模块导通损耗和开关损耗数学模型,并利用功率器件驱动信号来计算变频器的损耗,综合考虑了调制策略、负载功率因数、输出电流谐波、直流母线电压波动等因素,适用于变频器任何工况下的损耗和结温计算.建立了中点箝位型(NPC)三电平变频器电-热耦合模型,通过仿真和实验证明了所提方法的正确性,并分析了基于单开关周期的功率器件瞬态损耗及结温波动情况.