基于结温补偿的IGBT模块键合线失效监测方法

• 作者: 岳亚静 文星 杜明星 魏克新
• 来源期刊: 电力电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 绝缘栅双极型晶体管 等效电阻 结温估测 键合线失效
• 年，卷（期）: 2019,（2）
• 所属期刊栏目: 装置与应用
• 页码范围: 66-69
• 页数: 4页
• 分类号: TN32
• 语种: 中文

摘要

针对目前绝缘栅双极型晶体管(IGBT)结温估测存在误差的问题,利用通态压降作为结温估计的函数,考虑IGBT模块内部互连材料等效电阻的影响,对估计结温进行补偿,通过实验验证补偿后的温度更接进芯片的真实温度.在此方法的基础上,模拟IGBT模块老化的进程,确定键合线失效阈值,并建立键合线失效基准面.实验结果表明健康的IGBT功率模块和故障模块在三维曲面上具有很好的区分度,验证了运用该方法监测模块内部键合线失效情况的可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	魏克新		81	572	14.0	18.0
2	杜明星		55	278	9.0	14.0
3	文星		2	0	0.0	0.0
4	岳亚静		1	0	0.0	0.0