平面近场诊断在相控阵天线通道幅相性能测试中的应用

• 作者: 朱晓林 杨顺平
• 来源期刊: 电讯技术
• 学科: 工学
• 关键词: 相控阵天线 幅相性能测试 平面近场诊断 矢量旋转
• 年，卷（期）: 2019,（12）
• 所属期刊栏目: 电子与信息工程
• 页码范围: 1477-1480
• 页数: 4页
• 分类号: TN806
• 字数: 2864字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-893x.2019.12.017

摘要

传统的平面近场诊断在通道测试时由于互耦,得到的检测值为所有通道叠加的结果,不利于单个通道信息的提取.为了去除互耦,提出了矢量旋转和近场口面诊断相结合的方法,理论上能实现对相控天线单个单元的幅度相位的检测.对该方法进行误差分析,得到了各个误差源对该方法的影响大小.通过实验验证,证明了该方法有效地减小了互耦影响,能提取单个通道的近场、远场信息,并能为相控阵天线通道校准和故障检测提供有效的手段.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨顺平		6	9	2.0	3.0
2	朱晓林		1	0	0.0	0.0