国产芯片自动测试系统射频测试模块设计

• 作者: 刁静 张贵恒 王奇之 董阳 郑永丰
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 射频芯片自动测试系统 矢量信号生成和分析 S参数测试 噪声系数测量
• 年，卷（期）: 2019,（10）
• 所属期刊栏目: 测试与故障诊断
• 页码范围: 41-44,49
• 页数: 5页
• 分类号: TN98
• 语种: 中文
• DOI: 10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2019.10.009

摘要

针对当前射频芯片性能不断增强和应用日益广泛的现状,同时为了满足5G射频芯片测试需求,结合当前国际先进芯片自动测试技术,重点对国产芯片自动测试系统射频测试模块开展设计;通过对当前市场常用射频芯片以及5G射频芯片测试需求研究,通过采用小型化设计优化矢量信号收发模块的性能;为解决测试频率不断升高带来的问题,设计中采用模块化变频设计来拓展芯片测试频率范围;同时设计4个射频信号通道,每个通道具有4个射频端口,最大能够对16个被测件进行测试,显著提高芯片测试效率;该系统能够完成50 M～12 GHz矢量信号发射和分析,同时具有噪声系数测试,S参数测量,双音信号生成等功能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑永丰		3	42	2.0	3.0
2	王奇之		2	2	1.0	1.0
3	张贵恒		1	2	1.0	1.0
4	董阳		1	2	1.0	1.0
5	刁静		1	2	1.0	1.0