顾及粗差影响的全球电离层克里金插值及精度分析

• 作者: 朱永兴 杜兰 谭述森 贾小林
• 来源期刊: 测绘学报
• 学科: 地球科学
• 关键词: 克里金插值 总电子含量 全球插值 粗差剔除 精度分析
• 年，卷（期）: 2019,（7）
• 所属期刊栏目: 大地测量学与导航
• 页码范围: 840-848
• 页数: 9页
• 分类号: P228
• 字数: 4722字
• 语种: 中文

摘要

针对克里格电离层插值方法受粗差数据影响和全球适用性问题,基于克里金插值的变异函数,构造电离层插值的粗差剔除统计量,实现插值过程自动化粗差剔除.采用全球电离层总电子含量格网产品进行试验验证,得出以下结论:①粗差剔除统计量能有效剔除粗差,保证插值精度与样本精度相当;②基于2014年太阳活动高年样本,克里金插值的精度RMS为1.0～5.0 TECU(total electron content unit).

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	贾小林		95	642	15.0	22.0
3	杜兰		52	256	9.0	12.0
4	谭述森		13	60	4.0	7.0
7	朱永兴		16	108	5.0	10.0