航天嵌入式软件测试用例典型设计缺陷研究

• 作者: 左万娟 王小丽 虞砺琨 黄晨
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 测试用例 典型 设计缺陷 覆盖率
• 年，卷（期）: 2019,（10）
• 所属期刊栏目: 测试与故障诊断
• 页码范围: 36-40
• 页数: 5页
• 分类号: TP311.5
• 语种: 中文
• DOI: 10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2019.10.008

摘要

作为动态测试充分性的基本评价指标,覆盖率分析只能帮助修正因输入不足而导致的测试用例设计缺陷;针对航天嵌入式软件测试过程中不影响覆盖率统计结果的用例设计缺陷,从测试步骤和预期结果两大测试用例核心要素开展研究,提出十个典型缺陷,分别予以分析,并进行缺陷修正;工程实践证明,这些缺陷的发生率高,具有典型性;修正这些缺陷后,可以有效检出软件设计缺陷;与用例执行后的覆盖率统计数据分析相结合,可以有效提高测试充分性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄晨		7	12	3.0	3.0
3	王小丽		11	77	4.0	8.0
5	虞砺琨		7	9	2.0	3.0
7	左万娟		7	4	1.0	2.0