Ga-In-Sn微型共晶点相变特性研究

• 作者: 刁福广 叶萌 孙建平 王颖文 蔡晋辉 高凯
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 ITS-90国际温标 相变特性 镓铟锡三元合金 微型共晶点
• 年，卷（期）: 2019,（3）
• 页码范围: 421-426
• 页数: 6页
• 分类号: TB942
• 字数: 4276字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2019.03.12

摘要

以Ga-In-Sn三元合金为研究对象,研制了可用于现场及在线标定的微型Ga-In-Sn共晶点容器,开展了3种不同配比对相变温度和温坪复现影响的研究.结果 表明:3种配比的共晶点温坪可持续1.2 ～2h,实验的复现性优于4.5 mK,合成扩展不确定度为9.3 mK(k=2),3种配比的共晶点相变温度平均值为10.748℃;在相同热工况下Ga-In-Sn合金发生共晶反应的相变温度不受配比的影响;改变合金熔体的降温速率可改变微型共晶点过冷度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙建平		53	248	9.0	13.0
2	蔡晋辉		44	181	8.0	10.0
3	刁福广		2	3	1.0	1.0
7	王颖文		2	3	1.0	1.0
8	高凯		2	3	1.0	1.0
9	叶萌		2	2	1.0	1.0