基于指数威布尔分布的复杂电子系统使用可靠度建模

• 作者: 位林营 吴微露 胡海涛 许军
• 来源期刊: 探测与控制学报
• 关键词: 复杂电子系统 使用可靠度 指数威布尔分布 平均故障间隔时间
• 年，卷（期）: 2019,（2）
• 页码范围: 115-119
• 页数: 5页
• 分类号: TN959
• 语种: 中文

摘要

针对复杂电子系统在使用过程中的可靠度难以确定的问题,提出了基于指数威布尔分布的复杂电子系统使用可靠度建模方法.该方法采用指数威布尔分布来描述复杂电子系统中各单元的寿命分布,可以动态描述系统升级、单元替换、故障维修三种因素影响下的系统可靠度变化.仿真实验结果表明,该方法能够将复杂电子系统在使用过程中的维修维护因素的影响反应到可靠度的变化上,对复杂电子系统使用可靠性分析具有一定的现实意义以及实际应用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	位林营	国防科技大学电子对抗学院	3	1	1.0	1.0
2	吴微露	国防科技大学电子对抗学院	3	1	1.0	1.0
3	许军	国防科技大学电子对抗学院	5	31	2.0	5.0
4	胡海涛	国防科技大学电子对抗学院	4	4	1.0	2.0