沉积物中基于SiO2与Fe3O4粉末的复合体系的导电性能的研究

• 作者: 卢昱 方勇 江和龙 翁正进 董笑涵 袁迪 赵志伟 陈欣 高浚玮
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 地球科学
• 关键词: 半导体 电阻率 压片法 沉积物 纳米颗粒
• 年，卷（期）: 2019,（3）
• 所属期刊栏目: 固态电子器件及材料
• 页码范围: 585-590
• 页数: 6页
• 分类号: P736.21
• 字数: 5056字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2019.03.009

摘要

为了研究湖泊底泥沉积物在不同参数情况下的电阻率变化规律,对不同尺寸的二氧化硅( SiO2 )颗粒和四氧化三铁(Fe3O4)颗粒按照不同比例进行压片构成复合体系粉末,并利用XRD和SEM分析该复合体系的表面形貌和内部结构.结果表明,随着外加压强从2 MPa增大到20 MPa,SiO2/Fe3O4 复合体系的电阻率下降趋势逐渐变缓,不同复合体系电阻率下降的程度不同,且压片后无新的晶相产生. SiO2/Fe3O4 复合粉末体系的电阻率随着组分Fe3O4 比例的增加而减小,其变化规律还可能与不同尺寸SiO2 纳米颗粒的团聚现象有关.该研究的结果为沉积物中电流调控提供了一定的理论依据,对于修复沉积物污染具有一定的指导意义.