小弯曲半径下光纤宏弯损耗测试的拟合方法研究

• 作者: 宁四平
• 来源期刊: 光通信技术
• 学科: 工学
• 关键词: 宏弯损耗 小弯曲半径 本征值 加权最小二乘法
• 年，卷（期）: 2019,（4）
• 所属期刊栏目: 光纤光缆
• 页码范围: 23-28
• 页数: 6页
• 分类号: TN818
• 字数: 4176字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13921/j.cnki.issn1002-5561.2019.04.005

摘要

光纤在小弯曲半径下,为提高测试准确性,新版IEC 60793-1-47 Ed.4.0 b 2017推荐了以浸入高折射率溶液中测试得到的本征宏弯损耗值为参考,根据特定波长测量点的精度比较,选择最佳的拟合方法为测试方法.选择G.657.A1光纤为研究案例,通过对小弯曲半径下宏弯的多种拟合方法进行比较和研究,确定以1550nm和1625nm波长下宏弯拟合值的准确度为参考依据,作为小弯曲半径下光纤宏弯损耗最佳拟合方法选择的思路.