一种改进的SRAM故障内建自检测算法

• 作者: 彭伟 曾云 曾健平 王振宇 袁甲
• 来源期刊: 湖南大学学报（自然科学版）
• 关键词: March CS算法 静态故障 动态故障 故障覆盖率
• 年，卷（期）: 2019,（4）
• 所属期刊栏目: 计算机科学
• 页码范围: 97-101
• 页数: 5页
• 分类号: TN47
• 语种: 中文
• DOI: 10.16339/j.cnki.hdxbzkb.2019.04.014

摘要

面向March C+算法故障覆盖率的问题,本文提出一种改进的March CS算法来完成存储器SRAM的内建自测试.通过增加原算法元素的读写操作来敏化存储单元的故障,检测原算法不能敏化的静态故障和动态故障,从而提高故障覆盖率.最后,通过对1 024*32位静态随机存储器进行故障仿真验证,以及FPGA对SRAM芯片的应用性测试,March CS算法检测静态故障和动态故障的覆盖率分别达到91.67％和76.93％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	彭伟	湖南大学物理与微电子科学学院	14	46	4.0	6.0
2	曾健平	湖南大学物理与微电子科学学院	90	672	12.0	22.0
3	曾云	湖南大学物理与微电子科学学院	102	899	13.0	27.0
4	袁甲	中国科学院微电子研究所	16	33	3.0	4.0
5	王振宇	湖南大学物理与微电子科学学院	1	0	0.0	0.0