波长色散X射线荧光光谱法测定中低品位 铝土矿和高硫铝土矿中主次组分

• 作者: 苏梦晓 陆安军
• 来源期刊: 冶金分析
• 学科: 化学
• 关键词: 波长色散X射线荧光光谱法 中低品位铝土矿 高硫铝土矿 熔融制样 主次组分
• 年，卷（期）: 2019,（4）
• 页码范围: 53-59
• 页数: 7页
• 分类号: O657.34
• 字数: 4542字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.010581

摘要

中低品位铝土矿种类繁多,Al2 O3含量较低,而其他组分较为复杂,常富含Fe2 O3、CaO、MgO、S等组分,应用熔融制样-X射线荧光光谱法(XRF)测定富含Fe2 O3、S的样品在熔融时会腐蚀铂-金坩埚,样品流动性差,而且高温下S挥发严重.实验使用NH4 NO3作为氧化剂,采用熔融法制样,建立了波长色散X射线荧光光谱法同时测定中低品位铝土矿和高硫铝土矿中Al2 O3、SiO2、Fe2 O3、CaO、TiO2、K2 O、Na2 O、MgO、P2 O5、S的分析方法.为了拓宽Fe2 O3、S等组分的含量范围,采用国家标准物质之间互相配制和经多次化学分析的样品来绘制校准曲线;通过试验确定样品与熔剂的稀释比为1:20,加入1.0 g NH4 NO3作为氧化剂,滴加0.5 mL LiBr溶液作脱模剂,在1050℃下熔样8 min,可制得透彻、玻璃化程度高的样片.各组分的检出限在27.7～259μg/g之间,各组分测定结果的相对标准偏差(RSD,n=12)小于3％.经实际样品分析,各组分测定值与其他方法分析结果相吻合,有效解决了富含Fe2 O3、S的中低品位铝土矿和高硫铝土矿的制样问题及S不易被准确测定的难题,可用于测定S质量分数15％以内的铝土矿样品.