一种用于大信号测试的矢量校准快速修正方法

• 作者: 刘军 苏江涛 许吉 郑兴 郭庭铭
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: GaN器件 负载牵引 矢量校准 直通-反射-匹配负载(TRM)校准技术 矢量网络分析仪(VNA)
• 年，卷（期）: 2019,（8）
• 所属期刊栏目: 半导体检测与设备
• 页码范围: 652-658
• 页数: 7页
• 分类号: TN323.4|TM307
• 语种: 中文
• DOI: 10.13290/j.cnki.bdtjs.2019.08.014

摘要

大信号测试系统是评估GaN功率器件的非线性特性的重要手段,而精准的矢量校准是获得稳定可信测试数据的第一步.为了解决毫米波频段矢量校准易随时间增加而失效的难题,对不同的校准方法进行了讨论,并以直通-反射-匹配负载(TRM)校准方法为基础,对校准过程中的误差系数随时间变化的趋势进行了数据分析,提出了一种可以实时快速修正校准模型中误差系数的方法.采用这种方法,失效的校准状态可以在1 min内得到快速修正而恢复初始校准状态;矢量校准的时间稳定度与传统方法相比,可延长10倍以上.该方法有力地保证了大信号测试中数据的一致性,可广泛应用于器件建模和电路设计等领域.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘军	杭州电子科技大学射频电路与系统教育部重点实验室	30	47	4.0	6.0
3	苏江涛	杭州电子科技大学射频电路与系统教育部重点实验室	8	6	2.0	2.0
5	郭庭铭	杭州电子科技大学射频电路与系统教育部重点实验室	4	0	0.0	0.0
10	许吉	杭州电子科技大学射频电路与系统教育部重点实验室	1	0	0.0	0.0