水分对10kV电缆XLPE片状试样超低频介质损耗因数的影响

• 作者: 于钦学 任志刚 徐兴全 桂媛 胡则剑 郭卫 陶贺香 齐伟强
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 超低频 介质损耗因数 XLPE 浸水特性
• 年，卷（期）: 2019,（12）
• 所属期刊栏目: 绝缘技术
• 页码范围: 53-57
• 页数: 5页
• 分类号: TM215
• 语种: 中文
• DOI: 10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2019.12.010

摘要

交联聚乙烯(XLPE)电缆在运行过程中接头部分极易受潮,导致绝缘性能下降,影响其正常运行.为了探究交联聚乙烯受潮对其相对介电常数(εr)和介质损耗因数(tanδ)的影响,以片状XLPE试样为研究对象,测量其在不同浸水时间的εr和tanδ随频率的变化,并对试样的超低频介质损耗因数tanδ0.1Hz和工频介质损耗因数tanδ50Hz进行Pearson相关分析,最后对浸水前后的XLPE试样进行红外光谱分析.结果 表明:不同浸水时间XLPE试样的tanδ0.1 Hz比tanδ50 Hz大2.36～3.28倍,tanδ0.1 Hz、tanδ50 Hz及εr均随浸水时间的增加而增大,其中tanδ0.1 Hz的增大趋势更显著;tanδ0.1 Hz与tanδ50 Hz具有强相关性;红外光谱测试结果表明,XLPE分子结构中部分亚甲基变为H-C-OH基团,有水分以结构水的形式存在于浸水后的试样中.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于钦学		43	328	12.0	16.0
2	任志刚		16	130	8.0	11.0
3	郭卫		4	3	1.0	1.0
4	齐伟强		1	0	0.0	0.0
5	胡则剑		1	0	0.0	0.0
6	徐兴全		1	0	0.0	0.0
7	陶贺香		2	0	0.0	0.0
8	桂媛		1	0	0.0	0.0