基于LLC感应加热电源IGBT并联电容降低开关损耗探讨

• 作者: 冯晔 孙俊彦 廖作瑞 陈辉明
• 来源期刊: 电工技术
• 学科: 工学
• 关键词: LLC感应加热电源 开关损耗 并联电容
• 年，卷（期）: 2019,（9）
• 所属期刊栏目: 理论研究
• 页码范围: 33-36
• 页数: 4页
• 分类号: TM924.5
• 字数: 2390字
• 语种: 中文

摘要

针对LLC感应加热电源在扫频控制方式下存在IGBT关断损耗较大的问题,采用在IGBT的CE两端并联电容的方法来降低开关管的关断损耗.通过对关断状态下电路的分析,得出IGBT的关断损耗与CE两端并联电容的定量关系,并以此为参考依据选取合适的并联电容值,同时满足IGBT的ZVS开通和降低IGBT的关断损耗.最后通过试验验证了这种方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈辉明	浙江大学电气工程学院	76	1113	17.0	32.0
2	廖作瑞	浙江大学电气工程学院	3	1	1.0	1.0
3	冯晔	浙江大学电气工程学院	2	1	1.0	1.0
4	孙俊彦	浙江大学电气工程学院	3	2	1.0	1.0