一种六边形芯片自动定位测试方法的研究与实现

• 作者: 刘红军 孟宪圆 李强 杨刚 郑金宝 钟建平 高今朝
• 来源期刊: 机电产品开发与创新
• 学科: 工学
• 关键词: 探针台 六边形芯片 自动定位测试方法
• 年，卷（期）: 2019,（4）
• 所属期刊栏目: 测试与控制
• 页码范围: 81-83
• 页数: 3页
• 分类号: TH6
• 字数: 1846字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-6673.2019.04.027

摘要

探针台是半导体芯片测试的高精密仪器,可以连接测试仪,分选出晶圃里面的不合格芯片,减少后续工作的加工耗费.随着半导体行业的不断发展,芯片的种类也变得多样化,其中六边形芯片的分选测试,还没有一个快速的测试方法.文中研究并且实现了一种测试六边形芯粒的新方法,新型测试方法已经交付客户现场测试使用,测试结果得到了客户认可,解决了客户的测试难题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	钟建平		2	0	0.0	0.0
2	杨刚		11	4	1.0	1.0
3	刘红军		9	17	2.0	3.0
4	高今朝		3	0	0.0	0.0
5	孟宪圆		5	2	1.0	1.0
6	郑金宝		4	0	0.0	0.0
7	李强		3	0	0.0	0.0