基于STM32和FPGA的远程宽带幅频特性测试系统

• 作者: 刘子绪 谢桂辉 赵天明 赵娟 郑旭初
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 远程幅频特性测试 宽带扫频 动态范围 欠采样 STM32 FPGA
• 年，卷（期）: 2019,（9）
• 所属期刊栏目: 电子技术及应用
• 页码范围: 132-136,141
• 页数: 6页
• 分类号: TN06-34
• 语种: 中文
• DOI: 10.16652/j.issn.1004-373x.2019.09.031

摘要

介绍一种基于STM32与FPGA双控制核心的远程宽带大动态范围的幅频特性测试装置.该装置采用直接数字频率合成芯片AD9959产生频率和幅度均可控的正弦信号,并将其发送至待测网络.接收端对待测网络的输出信号进行可变增益放大和欠采样数字峰值检测后,将幅频信息通过WiFi模块无线传输至上位机进行幅频特性曲线的显示.该装置具有500 kHz～100 MHz的宽带扫频范围,52 dB的大动态范围,灵敏度可达100μV,支持多节点测试.由于采用了欠采样技术,该系统不需要高速ADC即可完成宽带信号采样,具有成本低、易维护等特点,可满足分布式测量、野外作业等特殊场景下的幅频特性测试需要,具有广阔的应用前景.