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摘要:
随着由龙芯Loongson、申威SW、飞腾FT等国产处理器以及中标麒麟Neokylin、道系统DeltaOS等国产操作系统组成的国产基础软硬件平台的出现,与之对应的调试工具已经无法满足平台各方面性能要求,导致调试效率相对低下.针对国产软硬件平台,基于Eclipse平台,设计了一种反向调试方案.该方案在Eclipse平台下通过集成面向国产平台的工具链和反向调试插件,实现图形化和智能化调试,并尽量实现用户界面友好、使用方便快捷.通过实验可知,该调试方案可以有效地简化调试过程,大大提高在国产软硬件平台下软件调试的效率.
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内容分析
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文献信息
篇名 面向国产平台的反向调试技术
来源期刊 传感器世界 学科 工学
关键词 Eclipse 插件 国产平台 反向调试
年,卷(期) 2019,(11) 所属期刊栏目 信号与系统
研究方向 页码范围 23-27
页数 5页 分类号 TP311
字数 3863字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 孔祥营 9 32 4.0 5.0
2 乔文利 1 0 0.0 0.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
Eclipse
插件
国产平台
反向调试
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
传感器世界
月刊
1006-883X
11-3736/TP
大16开
北京市北四环中路35号教2楼501(北京9716信箱404分箱)
82-694
1995
chi
出版文献量(篇)
2678
总下载数(次)
15
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