电磁继电器贮存失效分析及小子样零失效可靠性分析综述

• 作者: 尚尚 李维燕 王占 王召斌 韩春阳
• 来源期刊: 电器与能效管理技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电磁继电器 可靠性试验 贮存失效机理 可靠性分析
• 年，卷（期）: 2019,（15）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 65-70
• 页数: 6页
• 分类号: TM582
• 字数: 5426字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16628/j.cnki.2095-8188.2019.15.010

摘要

航天电磁继电器除了要具备较高的工作可靠性之外,其贮存可靠性及其失效分析也是影响国防武器装备定寿、延寿的重要科学问题.从工艺因素,环境影响因素等方面分析了继电器在长期贮存条件下的失效模式和失效机理.由于继电器加速贮存试验数据具有小子样零失效的特点,概述了对小子样情况下继电器的贮存可靠性分析方法.最后从工艺、环境等方面提出了其可靠性改进措施,并对今后的研究方向进行展望.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王召斌	江苏科技大学电子信息学院	14	56	2.0	7.0
2	尚尚	江苏科技大学电子信息学院	17	30	4.0	5.0
3	王占	江苏科技大学电子信息学院	6	5	2.0	2.0
4	韩春阳	江苏科技大学电子信息学院	6	5	2.0	2.0
5	李维燕	江苏科技大学电子信息学院	4	3	1.0	1.0