探究不同处理工艺对X射线荧光光谱法测定银含量的影响

• 作者: 周泽熙 梁锡海
• 来源期刊: 中国检验检测
• 学科: 物理学
• 关键词: X射线荧光光谱法 镀层 银饰品
• 年，卷（期）: 2019,（6）
• 所属期刊栏目: 学术研究
• 页码范围: 8-11
• 页数: 4页
• 分类号: O434.13
• 字数: 2760字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16428/j.cnki.cn10-1469/tb.2019.06.003

摘要

通过采用X射线荧光光谱法与电位滴定法对不同处理工艺的银合金进行检测,探究不同处理工艺对X射线荧光光谱法检测银合金的影响,以确认X射线荧光光谱法在银饰品上的应用.经实验分析表明,X射线荧光光谱法在开展不同工艺银合金的检测时,其检测结果受镀层厚度与镀层组分影响,甚至会造成误判,但通过打磨处理可消除其影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁锡海		3	3	1.0	1.0
2	周泽熙		1	0	0.0	0.0