双路扫描式激光测径仪系统设计

• 作者: 吴定祥 唐立军 康志远 龙威
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: 激光测径 ARM+FPGA 双路扫描 标准棒法
• 年，卷（期）: 2019,（5）
• 所属期刊栏目: 智能感知与仪器仪表
• 页码范围: 72-76
• 页数: 5页
• 分类号: TP206
• 字数: 1983字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19708/j.ckjs.2019.05.016

摘要

针对企业对小型零部件生产线上的工件线径检测精度和稳定性问题,研制了一款基于ARM+FPGA的双路扫描式激光测径系统,用于解决扁平形漆包线线径的精确测量问题.该测径系统采用标准棒法测量原理,运用累加求和取平均值的处理算法,实现了工件线径的厚度和宽度双向检测,克服了单路激光测径系统测量范围受限等缺点.实验结果表明,该测径仪精度可达到0.001 mm,示值误差不超过±0.005 mm,稳定性能好,测量精度高,适合于生产线上小尺寸工件线径的精度检测.由于FPGA的快速数据处理能力,本系统特别适用于动态线材的尺寸监测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐立军	长沙理工大学物理与电子科学学院	105	361	10.0	14.0
3	吴定祥		13	16	3.0	3.0
9	康志远		1	0	0.0	0.0
10	龙威	长沙理工大学物理与电子科学学院	2	0	0.0	0.0