CaGdAlO4:Eu3+荧光粉的制备及其X射线存储特性研究

• 作者: 严端廷 于迎新 刘春光 刘玉学 张猛 徐长山 李胜男 杨健 祝汉成
• 来源期刊: 光子学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 稀土离子 荧光粉 光激励发光 X射线成像 热释发光
• 年，卷（期）: 2019,（5）
• 所属期刊栏目: 材料
• 页码范围: 9-15
• 页数: 7页
• 分类号: O482.31|O433.1|O433.4
• 字数: 3194字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/gzxb20194805.0516002

摘要

采用自蔓延燃烧法制备了不同Eu3+掺杂浓度的CaGd1-x AlO4:xEu3+(CGA:xEu3+)X射线荧光粉材料.当Eu3+掺杂浓度在0～0.150范围时,Eu3+取代了基质中处于无中心反演对称的格位,使CGA:xEu3+样品呈现为单一相,并可观察到红光发射.当x=0.100时,红光发射强度达到最大.随着Eu3+离子浓度增加,Eu3+离子之间的距离减小,增大了Eu3+→Eu3+→猝灭中心的能量传递几率,出现了发光猝灭现象.实验发现,当Eu3+掺杂浓度为0.003时,光激励发光强度最大.对CGA:0.003Eu3+样品进行氮气气氛热处理后,CGA中的O H-离子基团减少,红光发射的发光强度增强.热释曲线表明CGA:0.003Eu3+样品中存在两种类型的陷阱,其陷阱深度分别为0.79 eV和0.93 eV.经氮气热处理后的CGA:0.003Eu3+样品,较深陷阱数量显著增多,光激励发光强度增强,光存储性能显著提高.随着X射线辐照时间的增加,X射线吸收剂量在0～11.8 Gy范围内大致呈线性增加的趋势.当X射线吸收剂量为1.2 Gy时,以在氮气气氛下热处理CGA:0.003Eu3+圆片为成像板,得到了较高质量X射线红色成像.实验结果表明,Eu3+掺杂的CGA X射线荧光粉材料在以CCD为光探测器的计算机X射线医学成像技术中有潜在的应用前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘春光	东北师范大学物理学院	28	74	6.0	7.0
2	杨健	东北师范大学物理学院	16	6	2.0	2.0
3	张猛	东北师范大学物理学院	7	9	2.0	3.0
4	祝汉成	东北师范大学物理学院	9	3	1.0	1.0
5	严端廷	东北师范大学物理学院	9	9	2.0	3.0
6	徐长山	东北师范大学物理学院	20	23	2.0	4.0
7	刘玉学	东北师范大学物理学院	15	21	3.0	4.0
8	于迎新	东北师范大学物理学院	1	0	0.0	0.0
9	李胜男	东北师范大学物理学院	2	2	1.0	1.0