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浅析数字集成电路故障检测仪
浅析数字集成电路故障检测仪
作者:
屈宏峰
肖佳艳
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
数字集成电路
故障检测仪
测试
设计
摘要:
数字集成电路在当今电路系统中的应用十分广泛,包括TTL74、TTL54、74LS系列以及CMOS4000、CMOS4500系列等.新时期,数字集成电路的结构更加复杂,采用传统人工检测方案已经无法满足检测需求.基于此,本文以74LS系列数字集成电路为案例,重点探究一种数字集成电路故障检测仪,可以自动检测出数字集成电路中的故障点.
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浅析数字集成电路故障检测仪
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关键词
数字集成电路
故障检测仪
测试
设计
年,卷(期)
2019,(4)
所属期刊栏目
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研究方向
页码范围
54-55,58
页数
3页
分类号
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2513字
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中文
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设备监理
主办单位:
中国质检出版社
中国设备监理协会
出版周期:
月刊
ISSN:
2095-2465
CN:
10-1021/TB
开本:
大16开
出版地:
北京市西城区三里河北街16号
邮发代号:
创刊时间:
2011
语种:
chi
出版文献量(篇)
1398
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