基于软件圈复杂度相关的不完美排错可靠性增长模型

• 作者: 张峰 李耀敏 费琪
• 来源期刊: 舰船电子工程
• 学科: 工学
• 关键词: 软件圈复杂度 Logistic增长模型 不完美排错 故障检测率 排错率
• 年，卷（期）: 2019,（11）
• 所属期刊栏目: 可靠性、保障性技术与效能分析
• 页码范围: 135-141
• 页数: 7页
• 分类号: TN911-34
• 字数: 4838字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-9730.2019.11.034

摘要

首次将软件可靠性模型与软件圈复杂度进行了关联,将软件圈复杂度划分为三个等级:普通、复杂、特别复杂.针对不同等级的圈复杂度,分别从代码状况、可测性、可维护性、对测试人员能力的要求、对开发人员能力的要求5维角度进行了充分分析,从而给出了基于软件圈复杂度相关的不完美排错可靠性增长模型.在进行可靠性模型建模的同时综合考虑了故障的检测率、故障排错率、排错时故障的引入率三大因素,最后将该方法应用于一组实验数据进行分析,证明了该方法的可用性,同时将该模型的拟合数据与现有模型的拟合数据进行了比较,证明了该方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	费琪		9	7	2.0	2.0
2	李耀敏		2	1	1.0	1.0