摩尔质量测量的中国贡献

• 作者: 任同祥 周原晶 王军
• 来源期刊: 计量技术
• 关键词: 摩尔质量 浓缩硅 同位素丰度比 高分辨质谱 多接收质谱 国际基本单位 重新定义
• 年，卷（期）: 2019,（5）
• 页码范围: 60-63,71
• 页数: 5页
• 字数: 3902字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0771.2019.05.15

摘要

中国计量科学研究院(NIM)自2012年参加阿伏伽德罗常数测定中浓缩硅摩尔质量测量国际合作研究,首次提出并建立了硅同位素丰度比的高分辨质谱测量方法,先后完成了浓缩硅和超浓缩硅摩尔质量的测量研究.尤其在超浓缩硅摩尔质量测量的国际比对中,NIM是参加比对的8个国家计量院中唯一一个同时采用了两种测量方法的计量院,而且两种方法所得结果最优,为超浓缩硅摩尔质量的准确测量以及阿伏伽德罗常数的准确测定提供了坚实的数据支撑,在新一轮国际单位制单位的重新定义活动中做出了中国计量院的贡献.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王军		51	146	7.0	8.0
2	任同祥		16	21	3.0	4.0
3	周原晶		8	13	2.0	3.0