多丝正比计数器工作气体压强变化对α、β表面粒子发射率测量的影响

• 作者: 张俊伟 张明 李语奇 杨志杰 梁珺成 王仁生
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 正比计数器 平面源 表面发射率 低能脉冲修正 蒙特卡罗模拟
• 年，卷（期）: 2019,（1）
• 页码范围: 153-158
• 页数: 6页
• 分类号: TB98
• 字数: 3910字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2019.01.25

摘要

为了研究工作气体气压变化对α和β源表面发射率绝对测量的影响,在α、β表面粒子发射率基准装置上,通过改变多丝正比计数器工作气体压强,对大面积α平面源241Am、β平面源204Tl和90Sr/90Y的表面粒子发射率进行了绝对测量,并通过阈值外推方法对低能信号引起的漏计数率进行修正.结果表明,当工作气体压强在50～180 kPa气压范围内变化时,不同气压条件下的α、β表面粒子发射率测量结果在实验不确定度范围内相一致.基于Geant4程序包对探测器结构进行建模,Monte Carlo方法给出的模拟结果得出的结论与实验结果相符.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁珺成		36	51	4.0	5.0
2	张明		28	61	5.0	6.0
3	王仁生	苏州大学医学部	2	1	1.0	1.0
4	李语奇		2	1	1.0	1.0
8	杨志杰		11	17	2.0	4.0
10	张俊伟	中国科学院近代物理研究所	1	0	0.0	0.0