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摘要:
长波红外高光谱成像系统由于光谱细分导致探测器所接收的目标信号的能量较一般成像系统弱,因此系统噪声对成像效果影响较大.针对这一现象,本文在分析系统噪声成分的基础上,提出采用ADC多次采样平均的方法来降低其噪声,并从理论上推导了该方法的有效性.然后搭建了实验系统,分析计算不同积分时间下,利用多次采样平均技术得到的信号和噪声大小,并计算系统的信噪比和NETD.结果表明,多次(m次)采样平均对系统的信号值几乎无影响,但可以将系统噪声降低至原来的m-1/2倍.因此,该方法可将系统的信噪比提高至原来的m1/2倍,并能有效降低系统的NETD,提高系统灵敏度.该方法为改善长波红外高光谱成像系统成像效果提供了一种方案.
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文献信息
篇名 多次采样平均在长波红外高光谱成像系统中的应用
来源期刊 红外技术 学科 工学
关键词 长波红外 高光谱成像 多次采样平均 降低噪声 NETD
年,卷(期) 2019,(5) 所属期刊栏目 图像处理与仿真
研究方向 页码范围 457-461
页数 5页 分类号 TN216
字数 2756字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 彭俊 中国科学院上海技术物理研究所中国科学院红外探测与成像技术重点实验室 9 34 3.0 5.0
5 何琦 中国科学院上海技术物理研究所中国科学院红外探测与成像技术重点实验室 3 2 1.0 1.0
9 赵航斌 中国科学院上海技术物理研究所中国科学院红外探测与成像技术重点实验室 4 3 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
长波红外
高光谱成像
多次采样平均
降低噪声
NETD
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
红外技术
月刊
1001-8891
53-1053/TN
大16开
昆明市教场东路31号《红外技术》编辑部
64-26
1979
chi
出版文献量(篇)
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30858
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