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摘要:
失效定位技术是发光二极管失效性分析中的重要组成部分,本文在主流的3种失效定位技术:光子辐射显微技术、光诱导电阻变化、红外热成像显微技术的基础上,提出了一种显微红外热点定位测试系统.该系统通过双线性插值算法使源图像放大至原来的4倍,在使用20μm微距镜头的条件下,能达到与5μm微距镜头接近的效果,降低了LED失效检验成本.利用可见光图像和红外热像图的叠加,提高电压对LED芯片失效点进行锁定,能在大范围内迅速定位LED芯片缺陷所在.在此基础上,结合FIB技术和SEM设备分析LED芯片微观结构,可以进一步分析LED芯片的失效原因,最终得到LED芯片的失效机理.实验结果表明,在初步的缺陷定位中,显微红外热点定位系统可快速地在无损条件下大范围区域内提供LED热数据分布,定位关键失效点,有效地提高了工作效率,降低了失效检测成本.
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文献信息
篇名 基于显微红外热点定位系统的发光二极管失效分析
来源期刊 发光学报 学科 工学
关键词 显微红外热点定位 发光二极管 失效分析 失效定位 双线性插值算法
年,卷(期) 2019,(9) 所属期刊栏目 发光学应用及交叉前沿
研究方向 页码范围 1185-1191
页数 7页 分类号 TN312+.8|TN307|TN219
字数 3435字 语种 中文
DOI 10.3788/fgxb20194009.1185
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节点文献
显微红外热点定位
发光二极管
失效分析
失效定位
双线性插值算法
研究起点
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相关学者/机构
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发光学报
月刊
1000-7032
22-1116/O4
大16开
长春市东南湖大路16号
12-312
1970
chi
出版文献量(篇)
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