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摘要:
杂质电离现象是“半导体物理学”课程的重要知识点和难点之一.本文通过对杂质电离的深入分析,推导出杂质电离程度η、温度T、掺杂浓度ND及施主杂质电离能△ED等4个重要物理量之间的关系.进一步深入讨论杂质完全电离的最大掺杂浓度上限、电离比例与杂质电离能的关系,同时引入Lambert W函数简化对温度的求解.最后研究4H-SiC中杂质不完全电离的问题.本文的分析方法不仅可加强学生对杂质电离的系统理解,而且可培养学生的分析和创新能力,有助于将来研究和设计半导体器件.
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文献信息
篇名 半导体中杂质不完全电离的分析
来源期刊 大学物理 学科 物理学
关键词 杂质不完全电离 掺杂 4H-SiC
年,卷(期) 2019,(8) 所属期刊栏目 教学讨论
研究方向 页码范围 21-25
页数 5页 分类号 O413.1
字数 3202字 语种 中文
DOI 10.16854/j.cnki.1000-0712.190016
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1 黄海猛 电子科技大学电子科学与工程学院 2 0 0.0 0.0
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节点文献
杂质不完全电离
掺杂
4H-SiC
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
大学物理
月刊
1000-0712
11-1910/O4
大16开
北京师范大学院内《大学物理》编辑部
82-320
1982
chi
出版文献量(篇)
4693
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19
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