基于非齐次泊松过程的数控系统可靠性建模

• 作者: 吴淇 杨立波 程家龙 罗静
• 来源期刊: 现代制造工程
• 学科: 工学
• 关键词: 数控系统 全寿命周期 非齐次泊松过程 可靠性
• 年，卷（期）: 2019,（9）
• 所属期刊栏目: 设备设计/诊断维系/再制造
• 页码范围: 137-140
• 页数: 4页
• 分类号: TH113
• 字数: 3121字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16731/j.cnki.1671-3133.2019.09.022

摘要

为了定量分析数控系统全寿命周期可靠性水平,建立基于非齐次泊松过程的系统可靠性评估模型,推导了早期故障期拐点与损耗故障期拐点的计算公式,并采用最小二乘法估计模型参数.以两台数控系统的运行故障数据为例,经计算其早期故障期约为8个月,运行约33个月后开始进入损耗故障期.使用Laplace趋势检验方法验证了系统故障过程符合浴盆曲线趋势.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗静	重庆理工大学机械工程学院	58	195	8.0	11.0
5	吴淇		3	1	1.0	1.0
6	程家龙	重庆理工大学机械工程学院	1	0	0.0	0.0
10	杨立波		1	0	0.0	0.0