单晶硅光伏组件性能衰减分析

• 作者: 刘帅 曹华翔 杨摇 范蛟 黄岳文
• 来源期刊: 电源技术
• 学科: 工学
• 关键词: 单晶硅 光伏组件 功率衰减 户外运行 可靠性
• 年，卷（期）: 2019,（4）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 641-645
• 页数: 5页
• 分类号: TM914.4
• 字数: 4792字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-087X.2019.04.030

摘要

光伏组件长期可靠性运行是大规模商业应用的前提.为确保光伏组件寿命超过25年,分析光伏组件性能衰减的机制显得至关重要.以长沙市户外使用9年的40 kW单晶硅光伏组件为对象,对其全过程的性能数据进行分析,进行外观检查、红外热成像测试和电性能评估.统计外观缺陷并分类,分析组件电性能参数衰减、变化情况;尝试把外观缺陷与电性能衰减对应关联起来.发现玻璃侵蚀、背板黄变、电池栅线和抗反射层氧化等频繁出现的外观缺陷可导致性能衰减,九年间总功率衰减7.8％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘帅		3	0	0.0	0.0
2	杨摇		2	0	0.0	0.0
3	黄岳文		2	1	1.0	1.0
7	曹华翔		1	0	0.0	0.0
11	范蛟		1	0	0.0	0.0