GIS内部缺陷检测及诊断分析技术研究

• 作者: 亓亮 何宁辉 周秀 朱洪波 田禄 马飞越
• 来源期刊: 电测与仪表
• 学科: 工学
• 关键词: GIS 局部放电 红外热成像 套管 缺陷
• 年，卷（期）: 2019,（24）
• 所属期刊栏目: 智能电网
• 页码范围: 86-91
• 页数: 6页
• 分类号: TM78
• 字数: 3142字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19753/j.issn1001-1390.2019.024.014

摘要

由于GIS设备罐体有极好的散热性能,目前采用红外测温仪无法有效检测GIS内部发热或放电缺陷.文章通过分析GIS内部发热缺陷机理及表现形式,提出了相应的诊断依据,并结合电网负荷信息,采用红外和超声局放检测相结合的方式,对GIS出线套管发热缺陷进行了分析,结果表明:GIS内部接触不良导致的发热缺陷,其外壳温度不仅与内部热点温度有关,还与外部温度、气室大小、负载大小等有关,对其缺陷严重程度应结合各相关因素进行综合分析.采用红外成像和局部放电结合的检测方法能够更加有效地发现GIS内部放电缺陷并进行定位,很大程度上提高了故障诊断工作效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马飞越	国网宁夏电力有限公司电力科学研究院	37	36	3.0	4.0
2	田禄	国网宁夏电力有限公司电力科学研究院	21	31	3.0	4.0
3	朱洪波	国网宁夏电力有限公司电力科学研究院	2	5	2.0	2.0
4	周秀	国网宁夏电力有限公司电力科学研究院	33	43	4.0	5.0
5	何宁辉	国网宁夏电力有限公司电力科学研究院	13	22	3.0	4.0
6	亓亮	国网宁夏电力有限公司电力科学研究院	7	9	2.0	3.0