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摘要:
采用直流反应磁控溅射法,在玻璃衬底上生长了沿(002)择优取向的AlN薄膜,用X射线衍射仪(XRD)和扫描电子显微镜(SEM)对AlN薄膜结构和表面形貌进行表征,并测量了AlN薄膜在405 nm激光激发下的光致发光(PL)光谱.结果表明,在不同氮气含量条件下生长的AlN薄膜均呈(002)择优取向,薄膜表面呈小颗粒密堆积排列,颗粒尺寸在20 nm左右.不同氮气含量条件下生长的AlN薄膜在550 nm处均有较强的由于VAl能级向价带跃迁引起的缺陷能级发光峰;AlN薄膜在589,614,654 nm处也有较弱的缺陷能级发光峰,随着氮气含量增大,缺陷能级发光峰越来越明显,产生原因分别为ON-ON缺陷对向VAl-2ON产生的复合缺陷能级的跃迁、导带向与氧有关的杂质能级(IO)间的跃迁以及VAl-ON深能级向价带的跃迁.
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文献信息
篇名 直流磁控溅射生长(002)择优取向AlN薄膜及其光致发光
来源期刊 发光学报 学科 物理学
关键词 磁控溅射 择优取向 光致发光 缺陷发光
年,卷(期) 2019,(6) 所属期刊栏目 材料合成及性能
研究方向 页码范围 719-724
页数 6页 分类号 O471.4|O482.31
字数 3267字 语种 中文
DOI 10.3788/fgxb20194006.0719
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 沈龙海 沈阳理工大学理学院 23 41 4.0 5.0
2 吕伟 沈阳理工大学理学院 3 0 0.0 0.0
3 刘俊 沈阳理工大学理学院 2 0 0.0 0.0
4 赵鹏宇 沈阳理工大学理学院 1 0 0.0 0.0
5 李健亮 沈阳理工大学理学院 3 1 1.0 1.0
6 李思达 沈阳理工大学理学院 2 0 0.0 0.0
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22-1116/O4
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长春市东南湖大路16号
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1970
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