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摘要:
通过硅光电转换器件的热平衡方程及其单指数模型,分析了温度改变对器件的实际测试精度的影响.基于数字源表和虚拟仪器平台LabVIEW,针对电压线性扫描测试过程中脉冲上升沿对测试时间的限制问题,设计了电压脉冲上升沿进行器件伏安特性测试方案,测试时间缩短为130μs,开路电压及光电转换效率均有1%~2%的提升.实验证明该方法能够实现对光电器件的伏安特性的快速测量及有效提高测试精度.
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文献信息
篇名 光电转换器件的伏安特性的快速测试方法设计及实现
来源期刊 电子器件 学科 工学
关键词 光电转换器件 LabVIEW 脉冲上升沿 伏安特性测试
年,卷(期) 2019,(4) 所属期刊栏目 电子电路设计分析及应用
研究方向 页码范围 914-919
页数 6页 分类号 TN21
字数 3766字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-9490.2019.04.020
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 赵宁 东南大学电子科学与工程学院 27 97 6.0 8.0
2 程天霁 东南大学电子科学与工程学院 1 0 0.0 0.0
3 周辰辉 东南大学电子科学与工程学院 1 0 0.0 0.0
4 苏丹 东南大学仪器科学与工程学院 2 0 0.0 0.0
5 杨晨曦 东南大学电子科学与工程学院 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
光电转换器件
LabVIEW
脉冲上升沿
伏安特性测试
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子器件
双月刊
1005-9490
32-1416/TN
大16开
南京市四牌楼2号
1978
chi
出版文献量(篇)
5460
总下载数(次)
21
总被引数(次)
27643
论文1v1指导