Single-event upset prediction in static random access memory cell account for parameter variations

• 作者: Bin ZHOU[1] Chunhua QI[1] Guoliang MA[1] Jianning MA[1] Liyi XIAO[2] Mingxue HUO[1] Tianqi WANG[1] Yanqing ZHANG[1] Yinghun PIAO[1]
• 来源期刊: 中国科学
• 学科: 工学
• 关键词: SEU Single-event upset prediction in static random access memory cell account for parameter variations
• 年，卷（期）: zgkx_2019,（6）
• 页码范围: 177-179
• 页数: 3页
• 分类号: TP333
• 语种: 中文