基于对消技术的微波部件弱无源互调测试方法

• 作者: 武东伟 谢拥军 郭昊
• 来源期刊: 电信技术
• 关键词: 对消技术 无源互调 微波部件 测试方法
• 年，卷（期）: 2019,（1）
• 所属期刊栏目: 制造与物料
• 页码范围: 82-85
• 页数: 4页
• 字数: 3726字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1247.2019.01.018

摘要

提出一种基于对消技术的微波部件弱无源互调测试方法,针对辐射型和导波型器件分别给出无源互调测试系统框图,并仿真分析对消电路中延时线的设计要求.该测试方法保证了后续互调测试中没有信号源杂散的干扰,提高了弱PIM测试的准确性,能够用在生产工艺过程中对原材料以及产品PIM来源的检测,提高产品合格率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢拥军		26	134	7.0	10.0
2	郭昊		21	76	4.0	8.0
3	武东伟		4	2	1.0	1.0