基于灰度的亚像素插值视觉测量方法

• 作者: 周勇 尹爱军 张震 戴宗贤 梁子晓 莫洪波
• 来源期刊: 中国测试
• 学科: 工学
• 关键词: 视觉测量 尺寸测量 边缘检测 亚像素插值算法
• 年，卷（期）: 2019,（5）
• 所属期刊栏目: 物理测试
• 页码范围: 33-37
• 页数: 5页
• 分类号: TP391.4
• 字数: 4724字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11857/j.issn.1674-5124.2018030114

摘要

针对现有视觉测量中的检测代价高,精度低和速度慢问题,该文提出一种基于计算机机器视觉的紧密内插值亚像素测量方法.该方法基于线性插值算法的原理,结合常规边缘检测方法和图像的灰度曲线图,利用阈值分割和标准长度进行亚像素自适应阈值选择.为验证该方法的有效性,对标准量块长度进行测量实验,并分析测量系统的误差影响因素.相比于传统的Canny算子方法检测结果,该方法的平均测量准确度提升46.2％.实验结果表明该算法的测量精度较高,可以快速、精确地测量出物体的几何尺寸.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	尹爱军	重庆大学机械工程学院	64	433	13.0	17.0
2	莫洪波		15	36	3.0	5.0
3	周勇		4	3	1.0	1.0
4	戴宗贤		11	9	2.0	2.0
5	张震		2	5	2.0	2.0
6	梁子晓	重庆大学机械工程学院	3	3	1.0	1.0