电子探针分析技术进展及面临的挑战

• 作者: 张迪 毛骞 苏斌 贾丽辉 郭顺 陈意
• 来源期刊: 岩石学报
• 学科: 地球科学
• 关键词: 微量元素分析 副矿物定年 场发射电子探针 软X射线分析谱仪 二次荧光效应
• 年，卷（期）: 2019,（1）
• 页码范围: 261-274
• 页数: 14页
• 分类号: P575.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.18654/1000-0569/2019.01.21

摘要

电子探针是研究地球与行星物质组成最基础的微束分析技术.近年来,固体地球科学和行星科学的不断发展,促使电子探针分析技术取得了一系列进展:矿物微量元素分析、稀土矿物测试方法完善、副矿物定年、富Fe矿物/熔体Fe3+含量测定、场发射电子探针及软X射线分析谱仪的开发及应用等.同时,电子探针分析技术也面临着诸多挑战:微量元素测试在降低检测限的同时,还需要提高分析的准确度和精确度;降低二次荧光效应的影响;场发射电子探针在低电压下需要建立全新的分析条件和校正方式.基于这些挑战,电子探针未来在微量元素监测标样开发、二次荧光效应校正、场发射电子探针及软X射线分析谱仪应用、波谱仪完善和微区多种分析技术集成等方面具有发展潜力,以便为地学样品的研究提供更丰富、更准确的微米尺度成分信息.