预锂化硅负极性能研究

• 作者: 叶谢维伊 廖丽霞 林智双 肖劼 邱培林
• 来源期刊: 电源技术
• 学科: 工学
• 关键词: 预锂化 硅 SEI膜
• 年，卷（期）: 2019,（5）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 755-757
• 页数: 3页
• 分类号: TM912.9
• 字数: 1844字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-087X.2019.05.008

摘要

以稳定化金属锂粉(SLMP)为预锂化试剂,对硅电极进行预锂化,探讨了SLMP对电极可逆容量及循环稳定性能的影响,预锂化电极在搁置过程中形成了较为稳定的SEI膜,补偿了电极首次放电(嵌锂)过程中形成SEI膜时损耗的锂.实验结果表明,向硅电极中引入0.7 mg SLMP,可补偿2 068.8 mAh/g的可逆比容量损失,以0.5 C循环50次后,容量保持率可从27.4％提高到58.4％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	廖丽霞	东北林业大学理学院	33	65	5.0	6.0
2	林智双	东北林业大学理学院	2	1	1.0	1.0
3	邱培林	东北林业大学理学院	1	0	0.0	0.0
4	肖劼	东北林业大学理学院	1	0	0.0	0.0
5	叶谢维伊	东北林业大学理学院	1	0	0.0	0.0