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摘要:
针对传统LCR测试仪存在精度低、响应速度慢以及量程小等缺点,设计了一种基于双MCU的LCR测量系统.系统以ARM和CPLD双MCU为开发平台,利用CPLD+DDS技术产生系统所需的精密信号源,采用矢量电压/电流信号检测电路和相敏检波电路实现矢量信号的精密检测,选用S3C6410微控制器实现数字信号的滤波、转换以及矢量分解.多次测试结果表明,设计的LCR测试仪检测稳定性好,方差小于0.05%,检测精度高,各项性能符合设计指标.
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文献信息
篇名 LCR测量仪的研究与设计
来源期刊 仪表技术与传感器 学科 工学
关键词 LCR 相敏检波 微控制器 矢量分解
年,卷(期) 2019,(5) 所属期刊栏目 仪器仪表
研究方向 页码范围 43-45,72
页数 4页 分类号 TP934
字数 1742字 语种 中文
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期刊影响力
仪表技术与传感器
月刊
1002-1841
21-1154/TH
大16开
沈阳市大东区北海街242号
8-69
1964
chi
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7929
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