泄能支路对CFETR失超保护系统影响分析

• 作者: 仝玮 傅鹏 宋执权 张秀青 李华 汪舒生
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: CFETR 失超保护 直流保护开关 杂散电感 泄能支路 可靠性
• 年，卷（期）: 2019,（8）
• 所属期刊栏目: 核科学与工程
• 页码范围: 105-110
• 页数: 6页
• 分类号: TL62|TM135
• 字数: 4480字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB201931.190050

摘要

中国聚变工程实验堆(CFETR)是中国自主设计的下一代聚变装置,其超导线圈的电流最大达到100 kA.失超保护系统尤其是直流保护开关的可靠性对于超导线圈的保护极为重要.分析了系统中泄能回路参数对CFETR失超保护开关的动作可靠性影响,首先通过理论计算分析杂散参数对开关动作的影响趋势,然后通过仿真求解关断过程中各支路电流电压来验证计算.计算结果证明,较大的泄能支路杂散参数将改变直流开关的关断参数,并降低直流保护开关的动作可靠性.最后对泄能电阻杂散电感提出小于120μH的设计要求,确保系统安全可靠地运行.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李华	中国科学院合肥物质科学研究院等离子体物理研究所	189	3087	30.0	49.0
2	傅鹏	中国科学院合肥物质科学研究院等离子体物理研究所	67	557	15.0	20.0
3	张秀青	中国科学院合肥物质科学研究院等离子体物理研究所	3	1	1.0	1.0
4	宋执权	中国科学院合肥物质科学研究院等离子体物理研究所	19	88	5.0	9.0
5	仝玮	中国科学院合肥物质科学研究院等离子体物理研究所	2	0	0.0	0.0