紫外/可见光谱技术无损检测苹果的挤压损伤

• 作者: 孟庆龙 尚静 张艳
• 来源期刊: 包装工程
• 学科: 工学
• 关键词: 光谱技术 无损检测 模式识别 损伤苹果
• 年，卷（期）: 2019,（13）
• 所属期刊栏目: 农产品贮藏加工
• 页码范围: 25-30
• 页数: 6页
• 分类号: TB487
• 语种: 中文
• DOI: 10.19554/j.cnki.1001-3563.2019.13.004

摘要

目的 通过紫外/可见光谱技术结合模式识别算法,建立挤压损伤苹果的Fisher识别模型、K最近邻(KNN)识别模型和偏最小二乘判别分析(PLS-DA)识别模型.方法 以挤压损伤苹果和无损苹果为研究对象,采用光谱仪采集2种苹果的光谱反射率,综合比较不同光谱预处理方法(二阶微分(SD)、标准正态变换(SNV)和多元散射校正(MSC))对各模型识别效果的影响,并利用主成分分析方法(PCA)对预处理后的光谱数据进行降维,并提取能反映损伤苹果的特征光谱.结果 采用主成分分析法选择了累计贡献率超过99％的前7个主成分(P1-P7)作为特征光谱数据,有效地实现了光谱数据的降维;二阶微分对光谱反射率预处理的效果最好;3种判别模型均能满足实际要求,且SD+Fisher和SD+PLS-DA识别模型对校正集和预测集样本的总正确识别率均高达100％.结论 研究结果有助于实现挤压损伤苹果的快速识别.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张艳		32	74	4.0	8.0
2	孟庆龙		17	14	2.0	3.0
3	尚静		19	15	2.0	3.0