BEPCII电子环寄生模损失测量

• 作者: 孙毅 戴建枰 杨际森 林海英 沙鹏 潘卫民 王光伟 王洪磊 王牧源 王群要 米正辉 马强
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 寄生模损失 同步相移 束流功率 高阶模
• 年，卷（期）: 2019,（8）
• 所属期刊栏目: 加速器技术
• 页码范围: 79-83
• 页数: 5页
• 分类号: TL506
• 字数: 2200字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB201931.190064

摘要

BEPCII在设计阶段从束流不稳定性和寄生模损失角度对阻抗提出了限制,但在BEPCII运行中寄生模损失是影响高流强稳定运行的因素之一.针对BEPCII电子环的寄生模损失进行了测量,主要是基于同步相移随流强的微小变化、束流功率测量和高阶模吸收器的功率.测量结果表明:两种方法对比测量全环寄生模损失,结果重复可信,且全环寄生模损失是超导腔寄生模损失的4～5倍.